二手 TERADYNE J973 #9176661 待售
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ID: 9176661
晶圓大小: 8"-12"
優質的: 1998
Tester, 8"-12"
Process application: Wafer sort
Copper process
Batch / Single wafer: 25"
Features
512 Channels AP
512 Channels wide ADS fancut (200 MHz)
(2) 50 A GVS
64M LVM
128 Channels of 256K VMO
200 MHz MTO
(48) 128M SPO
CE Marked
1998 vintage.
TERADYNE J973是一種高度先進的通用最終測試設備,旨在解決當今消費電子產品的復雜性和多樣性問題。這個廣受推崇的系統結合了高性能的多個測試通道和領先的數據管理功能。該設備的多達14個通道的測試體系結構為各種IC和其他組件提供了最大的測試覆蓋範圍和靈活性。它在某些DIP、LCC、SO、封裝和連接器中支持頂部和底部電氣測試。這種先進的模具級測試機設計用於有用的設備和刀具刻錄和測試。可靠的燒錄技術和快速測試解決方案可節省時間和成本。TERADYNE J-973是一種基於FPGA的模塊化測試資產,使用戶能夠開發更高的速度和更準確的測試。它采用數字信號處理(DSP)卡,通過自動測試模式生成、線性和精度測試等方式增強模型。該設備還具有強大的軟件包,可用於快速生成測試、進行準確的診斷以及更快地做出產品開發決策。系統中包含的功能強大的診斷工具允許進行復雜的測試和詳細的產品故障分析。高級數據存儲和報告功能使用戶能夠從多個運行中收集和分析完整的測試數據,從而進一步增強了此功能。該軟件包包括一個可遠程編程的測試頭、各種各樣的測試夾具以及一臺提供一整套軟件工具的PC。該單元提供了測試精度和可靠性的極致。板級測試程序在不同的裝配級別以及組件級別的多個測試中提供了廣泛的測試。它獨有的DC測試功能可以評估從主板到組件級別的關鍵組件的性能。J 973是一款功能極為強大的測試機器,能夠為各類消費電子產品提供快速準確的測試結果。其高度靈活的測試體系結構和強大的診斷工具使其成為生產和開發環境的理想選擇。其復雜的數據存儲和報告功能使其非常適合進行完整的測試和故障分析。
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