二手 BROWN & SHARPE MicroVal 343 #9140610 待售

BROWN&SHARPE MicroVal 343 Mask&Wafer Inspection Equipment是用於復雜半導體元件精密檢測、驗證和分析的綜合解決方案。該檢測系統利用先進的光刻技術，以高靈敏度提供精確的微小特征二維和三維圖像。MicroVal 343單元能夠以高達0.25 um的分辨率檢查各種復雜幾何形狀的掩模和晶片樣品。機器的光學成像工具由高分辨率全景CCD相機和精確LED光源組成。這樣可以確保所有特征,包括光刻膠圖樣、特征輪廓和空腔都能以高精度進行測量。資產的軟件允許用戶捕獲可以通過多種方式進行分析的圖像。例如,軟件可以檢測和識別模式,同時還可以準確測量樣本上的任何給定特征。此外,諸如邊緣檢測、OCR和比較功能等軟件工具使用戶能夠比較不同的晶片,以了解其結構和功能的差異。該模型還具有自動對準模式,可確保對所有樣品進行準確、穩定的測試,甚至提供調整和旋轉樣品圖像的能力,以便與光學設備進行適當的對焦。此外,BROWN&SHARPE MicroVal 343系統能夠檢測尺寸高達200 um的特征,並且利用其多光源配置,可以檢查反射和傳輸模式下的特征。總體而言,MicroVal 343 Mask&Wafer Inspection Unit為客戶提供了一個精確可靠的工具,用於檢查、驗證和分析復雜的半導體元件。利用先進的光刻技術，以高靈敏度提供精確的二維和三維微小特征圖像，為半導體工業提供了寶貴的服務。