二手 BROWN & SHARPE Xcel 7-10-7 #293806934 待售

BROWN&SHARPE Xcel 7-10-7 Mask&Wafer Inspection Equipment是一種先進的檢測系統，用於檢測半導體晶片和Mask中的缺陷。該單元設計用於同時分析多個晶片和掩模圖像，采用模式識別技術檢測各種類型的缺陷。該機器旨在幫助降低檢查晶片和口罩的成本，消除一些潛在的人為檢查錯誤。該工具使用電荷耦合器件（CCD）相機掃描每個掩碼/晶圓多達1,000個場，而軟件則協助獲取圖像和缺陷檢測。然後,資產可以將檢查結果與經過處理的晶圓或掩模表面的預定期望進行比較。對於每個掃描的晶圓或掩碼,模型都以易於解釋的格式顯示圖像。Xcel 7-10-7 Mask&Wafer Inspection Equipment允許最多七種不同的mask/Wafer搜索模式。它能夠檢測微粒、小特征和其他小至1平方微米的瑕疵，精度為0.00078英寸。它還能夠檢測每個晶片邊緣晶體生長的輕微缺陷。該系統允許用戶使用統計過程控制方法和工具分析不匹配數據，使他們能夠及時識別和糾正缺陷。它還支持對每個測試的掩碼的關鍵數據進行文本叠加。BROWN&SHARPE Xcel 7-10-7包括完整的產品和單元支持,以確保盡可能高效的性能。Xcel 7-10-7 Mask&Wafer Inspection Machine是生產線需要高精度和質量控制的重要工具。它能夠快速高效地檢測小缺陷,有助於降低成本和提高產品產量。它還為制造商提供了其產品將達到最高標準的保證。總體而言，該工具是制造商快速準確地檢查半導體晶片和掩模的一種具有時間和成本效益的方法。