二手 BROWN & SHARPE Xcel 765 #154417 待售

BROWN&SHARPE Xcel 765是一種掩模和晶圓檢測設備，設計用於自動測試和檢查光掩模、半導體晶圓和其他平板顯示器。它具有直觀的觸摸屏用戶界面,可快速設置和控制,從而在各種測試設置中具有靈活性。該系統主要用於缺陷分析、3D測量以及微觀缺陷和掩模和晶片差異的檢查。Xcel 765具有模塊化設計，因此用戶可以從各種選項中進行選擇，根據各自的需求定制設備。選項包括各種相機類型,如CCD、CMOS和NIR,以及一系列照明技術。光學臺尺寸也可以相應配置，而電動控制提供了高重復性的平穩運行。BROWN&SHARPE Xcel 765還具有多項專利技術,例如其PPI （Patterned Particle Inspection, Patterned Particle Inspection）技術,能夠自動檢測光掩模和晶片上的粒子。這臺機器可以檢測到50納米以下的微粒，結果快，精度高。另一個特色是AVP（Automatic Vision Patterning），它可以以精確和速度對齊、傾斜和旋轉零件。Xcel 765的閉環DEFACT控制允許自動掃描、測試和調整缺陷型掩碼。這提供了對微觀缺陷的連續分析和報告，最大限度地減少了人工檢查的需要。此外,還可以對機器進行自動條形碼掃描和3D測量配置,從而提高生產效率和準確性。總體而言，BROWN&SHARPE Xcel 765是一種高效的面罩和晶圓檢測工具。憑借其直觀的用戶界面、各種定制選項以及獲得專利的檢驗技術，它是任何需要快速準確檢驗口罩和晶片的行業的理想選擇。