二手 BROWN & SHARPE Xcel 9-15-9 #9177715 待售

BROWN&SHARPE BROWN&SHARPE Xcel 9-15-9是一種最先進的掩模和晶圓檢測設備,用於確保一致性和準確性達到最高標準。其15英寸激光投影系統，旨在以無與倫比的精度、可追蹤性和缺陷特性的重復性完善檢測過程。該單元提供無與倫比的圖像清晰度和測量精度，具有99.9%的可重復性，加上1微米分辨率。投影橢圓形、圓形和尖角的計算，加上線和邊的測量，從而消除運算符變量。該機器包括兩個一流的自動光學比較工具：Xcel晶片映射工具和Xcel晶片掩模檢查器。晶圓映射工具能夠測量全掩蔽和無掩蔽晶圓。采用先進的「光束位置感應」與傳統的「模式識別」技術相比，確保了晶圓特征的最精確分析和比較。晶片掩模檢查器評估不透明和透明材料的圖樣,同時提供有關掩模和晶片圖樣的極其準確的信息,以便檢測缺陷。它還具有高性能成像工具和專有的光學字符識別技術,可快速數字化和比較掩模圖樣計劃。Xcel 9-15-9資產與SEMI： Masker-Wafer Overlay Standard測量程序集成M1-1010,用於檢查晶圓和掩碼的設計和制造之間的差異。此外，該模型還提供了幾個軟件包，用於增強掩碼和晶圓數據的管理和分析。TheXcel Mask Design Interface允許用戶上傳設計文件,然後創建一個mask計劃,該計劃可以針對現有的mask進行驗證,並在制造前以3D形式可視化。「Xcel特征提取工具」可自動檢測特征、幾何形狀和尺寸,以及掩碼和晶圓映射,以識別陣列和相對距離。它允許用戶同時比較多個晶片，以便以更高的精度測量特性。BROWN&SHARPE BROWN&SHARPE Xcel 9-15-9是每家半導體晶片公司的寶貴工具,在檢查掩模和晶片特性時提供前所未有的精確度。它結合了自動化光學比較工具、高性能成像設備和軟件包,為無故障生產提供了業界領先的準確性。