二手 CARL ZEISS AIMS 248 #9251826 待售

CARL ZEISS AIMS 248是一種用於掩模和晶片檢查的自動檢查設備，它結合了革命性的成像技術，在對掩模和晶片表面的審查和評估中提供了最先進的精度和準確性。與傳統光學系統相比,該檢測系統具有獨特的遠心光學平臺,可提供卓越的成像質量,同時利用不到1%的光功率和時間。該單元還集成了一個高分辨率彩色CCD相機，能夠捕捉具有增強的景深和無與倫比的圖像清晰度水平的圖像。為了進一步優化檢查過程,AIMS 248包含一臺自動對焦調整機,該機可以識別和校正任何對焦漂移,並為圖像審閱提供精確的準確性。此功能大大縮短了完成檢查過程所需的時間,並使數據的解釋速度比以往任何時候都快。此外,該工具還提供多種支持功能,包括集成的計算機控制晶片和掩模位置傳感器,用於檢測缺陷和高達0.0001 cm的位置精度、動態掃描速度調整以及直觀的數據分析工具。CARL ZEISS AIMS 248利用了一種革命性的顯微鏡技術，稱為光學輪廓測量，使其能夠以極高的精度測量薄膜表面輪廓、形狀和其他表面缺陷。這種先進的資產可以檢測和分析表面缺陷和缺陷,分辨率小於50 nm。為了進一步提高其性能，該模型采用了激光粒子計數器等多種配件，用於測量薄膜粒子位置、用於詳細分析表面缺陷的高分辨率顯微鏡附件、用於測量表面反射率的散射計以及用於精確測量表面特性的可變入射角附件。這些特性使AIMS 248成為掩模和晶圓檢查的優越工具。此設備提供卓越的成像性能、更高的準確性和最大的易用性。CARL ZEISS AIMS 248具有廣泛的附件和可定制的成像參數,能夠滿足對高端掩模和晶圓檢查過程的任何檢查要求。