二手HERMES MICROVISION / HMI(光罩與晶圓檢測)待售

Hermes Microvision（HMI）是半導體行業領先的掩模和晶圓檢測設備制造商。他們的產品提供類似物、優勢和各種型號，以滿足不同的檢驗需求。HMI的掩模檢查系統，如eScan 320，提供高分辨率的成像和分析能力，以準確和高效的方式檢測光掩模上的缺陷。這些單元利用先進的光學技術，包括多種照明模式和成像算法，來識別各種缺陷，如粒子、圖樣偏差和CD變異。來自HMI的晶片檢測機，如eP3 XP和eScan 500，設計用於檢查半導體制造過程不同階段的晶片。這些工具結合了先進的成像和分析技術來檢測缺陷，如模式偏差、顆粒汙染和叠加誤差。它們提供快速和準確的檢查能力，能夠及早發現和控制缺陷，從而確保半導體產品的產量和質量更好。HMI的掩模和晶圓檢測資產的優點在於其高吞吐量、靈敏度和可靠性。這些型號能夠高速檢查大量的掩模和晶片,而不會影響檢測精度。它們幫助半導體制造商實現高產率，提高產品整體質量。總體而言，HMI的掩模和晶圓檢測設備，包括eScan 320、eP3 XP和eScan 500，為缺陷檢測和分析提供了先進的能力，確保了半導體制造過程的平穩運行。