二手HERMES MICROVISION / HMI(晶圓測試和計量)待售

Hermes Microvision （HMI）是晶圓測試和計量設備的領先制造商。它們的產品旨在提高半導體制造工藝的效率和準確性。利用HMI晶片測試系統檢測制造過程中半導體晶片的任何缺陷或不規則性。這些單元，如eP3 XP，采用了暗場檢查等先進技術，允許識別各種缺陷類型，包括顆粒、劃痕和圖樣偏差。這使制造商能夠進行徹底的質量控制措施，並確保生產高質量的半導體晶片。來自HMI的計量機器，如Epointer2-VC和Epointer2，設計用於為半導體器件結構提供精確可靠的測量數據。這些工具采用掃描電子顯微鏡（SEM）和透射電子顯微鏡（TEM）等各種技術來精確測量關鍵參數，如尺寸、輪廓和材料成分。這使制造商能夠驗證其半導體器件的性能和質量,確保它們符合要求的規格。HMI的晶圓測試和計量資產提供了幾個優點，包括高精度、快速的檢測速度和全面的缺陷檢測能力。這些模型為制造商提供了有價值的數據,以增強過程控制、提高產量並降低制造成本。總體而言，HMI的晶圓測試和計量設備是半導體制造商必不可少的工具，使它們能夠實現高質量的半導體產品，並保持行業競爭力。