二手 HERMES MICROVISION / HMI eP3 XP #9293877 待售

HERMES MICROVISION/HMI eP3 XP是一種掩模和晶圓檢測設備,可提供高精度和精確度,用於識別復雜、高密度圖案設計中的微觀缺陷和特征。該系統采用先進的圖像處理和創新算法相結合，快速徹底地檢查掩模或晶片的兩側。HMI eP3 XP包括強大的激光掃描技術，可以快速準確地收集高分辨率的立體聲數據。該單元使用2相機、非接觸式成像機提供掩模或晶圓的全場立體圖像。其專有的模式識別軟件支持自動缺陷檢查和3D配置文件特征檢測。HERMES MICROVISION eP3 XP使用的專有視覺平臺使用了復雜的三維（3D）分析成像工具來快速識別和隔離最小的缺陷或特征。該資產旨在將缺陷檢測和廣域成像降低到納米精度。該模型還包含許多使其直觀和用戶友好的功能,包括易於使用的圖形用戶界面（GUI）。這使用戶能夠快速高效地訪問各種工具。設備還提供多層功能,使操作員能夠配置對單個特征類型的檢查。HMI eP2 XP是一個健壯的系統，適用於多種應用，如先進的制造掩模和模具的檢測和缺陷檢測，集成電路（IC）晶片。它具有許多功能,使其成為任何掩碼和晶圓檢查應用程序的絕佳選擇,例如,其經過驗證的缺陷檢測和3D曲面輪廓分析功能。總體而言，eP3 XP掩模和晶片檢驗裝置是一種先進的、用戶友好的機器，它提供了檢查掩模和晶片的缺陷和特性的最終能力。通過利用最新技術,該工具能夠快速準確地檢測微觀缺陷和特征,幫助確保產品和工藝質量達到最高水平。直觀的GUI和多層功能進一步增強了資產的可用性和實用性,使其成為任何掩碼和晶圓檢查應用的絕佳選擇。