二手 HERMES MICROVISION / HMI eP3 XP #9309100 待售

HERMES MICROVISION/HMI eP3 XP是一種突破性的掩模和晶片檢測設備,旨在為光掩模檢測和晶片光學檢測提供高效可靠的計量。該系統先進的光學設計使得掩模檢測的精度達到10um，晶圓檢測的精度達到1um，這在業界是無與倫比的。這種光學設計與通用的自動檢查平臺相結合,允許在各種條件和場景中進行掃描。HMI eP3 XP使用先進的多波長照明裝置,即使檢測到的材料中最小的缺陷,無論它們位於何處。這使得它對於檢查極其復雜的設計以及檢查極薄晶片的表面特別有用。該機器還具有內置的實時錯誤檢測和糾正功能,使其能夠自動檢測和解決任何不希望的缺陷。這對於保持最高的精度和精確度標準至關重要,對於需要始終如一地交付最高質量產品的掩模和晶片制造商來說尤其重要。HERMES MICROVISION eP3 XP具有直觀的用戶界面,可用於快速輕松地編程檢查參數和設置定制的檢查過程。這確保了從數據捕獲到結果顯示的無縫端到端檢查過程。最後,該工具得到業界領先的支持和服務網絡的支持,從而能夠快速響應可能出現的任何問題。這意味著此資產的用戶可以放心,因為他們可以在需要時獲得高級別的技術和客戶支持。總體而言,eP3 XP是一種革命性的掩模和晶片檢驗模型,它利用最先進的技術提供快速、準確、可靠的檢驗結果,是掩模和晶片制造商的絕佳選擇。