二手 HERMES MICROVISION / HMI eP3 #9285021 待售

HERMES MICROVISION/HMI eP3是一個掩模和晶圓檢驗系統，旨在滿足最苛刻的半導體生產要求。它能夠為所有類型的掩模和晶圓生產提供最高精度的測量和計量測試。HMI eP3是光學晶片審查、缺陷分析、光刻檢查、屈服管理和陣列晶片光學審查等應用的理想選擇。它的自動圖像采集和處理技術能夠檢測到任何不可預見的錯誤並準確處理這些錯誤。HERMES MICROVISION eP3配備了智能成像能力和強大的照明系統，擁有多種軟件工具來調節數字圖像的捕獲，以及測量的範圍和準確性。這樣可以確保對掩模和晶片缺陷進行準確的評估和標記,以便進一步檢查。EP3得到了HERMES MicroImage軟件套件的支持，該套件旨在為圖像分析和缺陷審查提供全面的方法。此軟件套件提供各種預定義的圖像視圖,包括垂直/水平/對角線翻轉圖像、對比度增強、放大圖像或擴展視圖,以詳細分析檢查結果。此外,HERMES MICROVISION/HMI eP3還提供了優越的光學器件和更高的圖像分辨率銳化率,允許根據樣品亮度的均勻性調整曝光時間。這優化了曝光極限範圍，提高了圖像捕捉的準確性。此外,HMI eP3還配備了直觀的用戶友好界面,為操作員提供了訪問和更改設置的所有必要工具。其用戶標記的功能和快捷方式保證了在安裝和執行時節省操作時間。綜上所述，HERMES MICROVISION eP3是一個全面可靠的掩模和晶圓檢測系統，具有多種特性和功能，非常適合半導體生產。其自動化的圖像采集和分析使其能夠提供準確可靠的結果。此外,它的用戶友好界面確保了快速、直接的設置過程。