二手 HERMES MICROVISION / HMI eScan 315xp #9253895 待售

HERMES MICROVISION / HMI eScan 315xp
ID: 9253895
晶圓大小: 12"
E-Beam inspection system, 12".
HERMES MICROVISION/HMI eScan 315xp是一種高精度的掩模和晶圓檢測設備。這個精密的系統是為了滿足半導體工業的嚴格要求而設計的。憑借其最先進的成像技術,HMI eScan 315 xp能夠對掩模和晶片進行高效、經濟高效的檢查。設備配置有掃描頭、工作距離頭、背光和軟件。它具有長工作距離、穩定的成像路徑和先進的數字成像技術。電動掃描頭可以精確控制掃描速度和準確性。這樣可以確保高清成像的高分辨率功能達到納米級(0.1微米)。這臺機器將一臺300萬像素的3CCD彩色相機與一臺500萬像素的單色相機結合在一起,可以捕捉到比傳統系統快10,000倍的圖像。工具獲取的圖像由軟件處理,軟件提供詳細分析,包括測量、分割和分類。這種分析可以在納米級檢測微妙的幾何和電氣缺陷。它使檢查過程自動化,減少了手工評估的需要。HERMES MICROVISION eScan 315xp具有掩碼和晶圓檢查的全方位功能,如2D和3D掃描、高精度聚焦、自動缺陷檢測。它還可以檢測晶圓表面的劃痕和沈積。先進的成像技術與強大的軟件相結合,使eScan 315xp成為高效可靠的掩模檢查解決方案。HERMES MICROVISION/HMI eScan 315xp的設計旨在降低人工成本、提高產量和簡化生產流程。已廣泛應用於半導體工業中,用於IC掩模和晶圓的檢驗。該資產還可用於廣泛的其他行業,如電子制造、醫療器械制造和汽車生產。
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