二手 HERMES MICROVISION / HMI eScan 320 #9273871 待售

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HERMES MICROVISION / HMI eScan 320
已售出
ID: 9273871
晶圓大小: 12"
優質的: 2011
E-Beam defect inspection system, 12" With E-beam probe 2011 vintage.
HERMES MICROVISION/HMI eScan 320是一種最先進的掩模和晶片檢查設備,用於檢查半導體晶片和掩模中的缺陷。HMI eScan 320有一個寬大明亮的21英寸彩色顯示器,使操作員可以輕松查看掃描結果。它配備了數字成像掃描系統,能夠掃描多達30,000個染料部位,精確度高達0.001mm。掃描單元使用六通道彩色攝像機從被掃描對象的所有側面捕獲數據。HERMES MICROVISION eScan 320還具有獨特的「自動聚焦」功能,旨在確保以最佳格式捕獲數據,從而減少掃描過程中的潛在錯誤。此外,eScan 320還配備了功能強大的圖像分析機,能夠檢測尺寸小至1微米的缺陷,並提供有關檢測缺陷的類型、大小和位置的詳細信息。該工具設計為具有較高的吞吐量速率,因此可以在一次掃描中處理大量的掩碼和晶片。這也允許用戶一起批量多次掃描,使他們能夠在一個會話中快速檢查整個批次的晶圓。該資產還具有直觀和用戶友好的控制面板,這使得模型的操作微風。HERMES MICROVISION/HMI eScan 320是任何半導體或微電子應用的理想解決方案,在檢查晶片和掩模缺陷時需要精確和精確。HMI eScan 320強大的圖像分析設備、自動對焦功能和堅固的結構相結合,成為任何半導體生產企業的寶貴資產。工廠所有者和運營商將很高興地發現,HERMES MICROVISION eScan 320極具成本效益,並且需要最少的安裝和維護,使其成為一個有吸引力和可靠的檢查選項。
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