二手 HERMES MICROVISION / HMI eScan 400 #293666956 待售

HERMES MICROVISION / HMI eScan 400
ID: 293666956
E-Beam defect inspection system.
HERMES MICROVISION/HMI eScan 400是為半導體制造商設計的高性能、精密的掩模和晶圓檢測設備。這個先進的系統可以檢測到先進的設計面罩和晶片中的小缺陷,每秒的速度為1億像素。HMI eScan 400配備了強大的激光光譜儀,提供卓越的缺陷檢測和模式識別能力,以及確保精確缺陷測量和分析的高分辨率CCD相機。該單元還使用3D成像技術,即使在納米級也能檢測和量化缺陷。通過使用模式識別算法,HERMES MICROVISION eScan 400可以檢測到掩模和晶圓材料中非常小的不規則性和汙染物。機器還包含各種自動化測試功能,如自動邊緣分析、汙染檢測和缺陷密度分析,這有助於最大限度地減少與檢查過程相關的時間和成本。此外,自動化過程可以加快處理和分析大量數據的速度,同時確保高精度。EScan 400被構建為模塊化和可擴展的,以滿足未來的需求以及處理各種任務。它的自動位置感測工具使它能夠準確檢測、測量和報告各種形狀、大小和材料的缺陷。此外,這一資產還利用靈活的軟件平臺,可以編寫額外任務和定制分析。HERMES MICROVISION/HMI eScan 400正在徹底改變掩模和晶圓檢查過程。它的高性能和精確度,加上經濟高效和堅固的設計,使其成為半導體制造商的理想型號。
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