二手 HERMES MICROVISION / HMI eScan 400 #9311075 待售

HERMES MICROVISION / HMI eScan 400
ID: 9311075
優質的: 2011
E-Beam defect inspection system Process: Metro 2011 vintage.
HERMES MICROVISION/HMI eScan 400是一種高分辨率的掩模和晶片檢查設備,設計用於對有圖樣的掩模和晶片進行精確和高效的成像和分析。它提供了多種軟件和硬件組件,為檢測、診斷和糾正芯片和薄基板上的缺陷和不符合要求提供了全面的解決方案。HMI eScan 400具有具有多像素陣列的高靈敏度、低噪聲CCD成像系統,便於捕獲晶圓和掩碼的極高分辨率圖像。該單元還具有堅固的橫截面圖像采集和顯示能力,用於識別小缺陷或一致性。HERMES MICROVISION eScan 400具有高速、單軸晶片級,提供高達0.01 m的重復性和50 mm的視場。它還支持快速的舞臺動作和樣品交換。除了舞臺,機器還附帶了幾個為各種任務設計的軟件程序。在圖像分析和測量方面,該工具提供了強大的邊緣檢測算法、可靠的模式識別算法以及有效的基板和組件分析在線檢測工具等特殊應用。而且,eScan 400具有高度集成的數據處理資產。它使用功能強大的軟件程序進行數據選擇、顯示和報告。這一集成模式有助於與主機系統和其他計算機控制系統進行高效通信。此外,設備可以儲存結果,方便不同晶片或掩模的性能評估和比較。HERMES MICROVISION/HMI eScan 400系統還包括設計良好的用戶界面和易於使用的圖形用戶界面(GUI)以及用於遠程配置、優化和監控的廣泛功能。此外,該設備還具有用於晶圓識別的直觀導航機器。綜上所述,HMI eScan 400是一種高性能、經濟實惠的蒙版和晶圓檢測解決方案。它結合了高靈敏度CCD成像工具和強大的邊緣檢測和模式識別軟件程序,精確檢測、診斷和糾正芯片和薄基板上的缺陷和不符合要求。其集成的數據處理和用戶界面使其易於使用。這種高效可靠的資產非常適合高分辨率成像和精確檢查圖樣晶片和掩模。
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