二手 HERMES MICROVISION / HMI eScan 500 #9281328 待售

HERMES MICROVISION/HMI eScan 500是一種用於評估半導體晶片和網狀體質量的掩模和晶片檢驗設備。它為晶片結構缺陷的檢測、測量和分類提供了一個全面、高分辨率的晶片視圖。這個先進的系統使用掃描電子顯微鏡和高分辨率數碼相機來檢查半導體晶片和掩模的表面。HMI eScan 500單元設計了符合人體工程學的平臺，允許方便地訪問集成顯微鏡、數碼相機和其他組件。作為機器一部分的數字電動X-Y級允許精確的樣本對準和導航。用於此計算機的掃描控制軟件對用戶友好,可以配置為確定正在檢查的晶圓、掩碼和標線的大小和類型。HERMES MICROVISION eScan 500還附帶了自動缺陷檢測和分類工具，可用於檢測和分類各類隨機分布的缺陷。該資產采用紫外線拉曼顯微鏡和圖像分析設計，用於查明缺陷的位置，並根據大小、形狀和類型進行分類。該模型還自動從被檢查樣品的所有特征中獲取數據，從而消除了用戶的手動輸入。除了缺陷分析外，eScan 500設備還能夠對晶圓、掩模和標線的各種特征進行測量。這包括測量,例如線寬、邊輪廓、叠加和電阻率。此外，該系統還能夠評估晶圓或標線的變化應變水平。所有這些數據都存儲在數據庫中,供以後查看和分析,從而提高了機器的效率。總體而言，HERMES MICROVISION/HMI eScan 500是一個檢查半導體晶片和標線的強大單元。它提供了樣本的全面視圖，允許用戶調查和分析組成晶圓的各種成分。自動缺陷檢測和分類機為機器增加了效率，而測量能力提供了對樣品的準確分析。總而言之，這種工具對於確保質量達到標準至關重要。