二手 HERMES MICROVISION / HMI SEIEP4 #9284624 待售

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HERMES MICROVISION / HMI SEIEP4
已售出
ID: 9284624
E-Beam inspection system.
HERMES MICROVISION/HMI SEIEP4是一種用於半導體工業的掩模和晶圓檢測設備。它是一個具有集成圖像處理能力的自主系統,精確、同步地檢測大面積的基板,精度高、速度快。其先進的光學單元能夠執行邊緣識別、對比度控制、對比度增強、顏色分割、自動晶片檢測等操作。HMI SEIEP4包括一個可控的照明器,用於變化的照明或背光條件.該照明器可用於對平面和彎曲物體執行檢查和成像任務,使其具有更大範圍的圖像分析能力。此外,它還可以同時執行多個檢查和高速檢查,圖像捕獲速率高達30幀/秒。該機還具有高分辨率CCD攝像頭,可捕獲高分辨率和高精度旋轉級的詳細圖像和光學鏡頭。CCD相機提供從8位到16位灰度圖像的各種數字圖像大小,包裝到Full RGB、多重TIFF或CMOS原始單一圖像。相機的分辨率是可定制的,可用於對準、檢查、圖像分割和識別等像素操作。HERMES MICROVISION SEIEP4包括許多確保準確性和可靠性的功能,包括用於分析圖像數據、晶圓宏編程、模式識別和計算機輔助設計(CAD)的質量保證工具。其高性能處理器允許高效的圖像處理,而其內置內存則允許預編程的圖像檢查和圖像數據結構分析。此外,它與其他HERMES WAFER檢驗工具高度先進的集成,使客戶能夠輕松管理多個檢驗任務。SEIEP4是一種功能強大的掩模和晶片檢查工具,專為高精度、高速的應用而設計。其集成的光學工具、CCD攝像機、旋轉級以及眾多其他功能增加了其檢查和分析能力的範圍。從質量保證到自動檢測和圖像分割,HERMES MICROVISION/HMI SEIEP4是任何半導體行業的絕佳選擇。
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