二手KLA / TENCOR(光罩與晶圓檢測)待售
KLA/Tencor是著名的半導體檢測設備制造商，包括掩模和晶圓檢測系統。這些裝置旨在確保半導體制造過程中使用的掩模和晶片的質量和完整性。KLA/Tencor提供的流行口罩檢測機之一是SP1-TBI。該系統利用基於傳輸的成像技術檢測口罩上的缺陷並分析關鍵尺寸。以檢查速度高、靈敏度好、誤報低而著稱，有助於提高半導體制造工藝的產率。另一個值得註意的例子是2132面罩檢查系統。它提供高級成像功能,提供詳細而準確的缺陷分析。它具有可靠的缺陷捕獲和分類算法,可幫助半導體制造商快速識別和解決與掩碼相關的問題。SP1-DLS是KLA/Tencor的另一種采用深度學習技術檢測缺陷的掩模檢測系統。它將先進的機器學習算法與高分辨率成像相結合，實現了卓越的缺陷檢測精度。總體而言,KLA/Tencor的掩模和晶圓檢測工具提供了具有業界領先功能的類似物,例如高靈敏度、快速的檢測速度和準確的缺陷檢測。這些資產在確保半導體制造中使用的掩模和晶片的質量方面發揮著關鍵作用，有助於提高產量和降低生產成本。
顯示第
1-30
of
154
發現的結果
過濾器
全部清除
過濾器
154 結果
晶圓大小
-
(1)
-
(56)
-
(1)
-
(2)
-
(1)
-
(1)
-
(3)
-
(1)
-
(5)
-
(31)
-
(6)
-
(1)
優質的
-
(3)
-
(2)
-
(3)
-
(2)
-
(1)
-
(9)
-
(8)
-
(4)
-
(6)
-
(9)
-
(13)
-
(6)
-
(10)
-
(3)
-
(3)
-
(6)
-
(4)
-
(1)
-
(3)
-
(7)
-
(3)
-
(9)
-
(4)
-
(1)
-
(2)
-
(1)
-
(1)
-
(152)
找不到你要找的？