二手 KLA / TENCOR 2131 #9269112 待售

KLA / TENCOR 2131
ID: 9269112
Wafer defect inspection system.
KLA/TENCOR 2131是為半導體行業設計的高性能檢測設備。該系統結合了先進的成像技術和創新的檢查工具,以提供業界領先的生產力和質量保證。該單元適用於每個掩模和晶片檢查過程,包括物理尺寸測量、光學缺陷檢查、電氣故障分析以及光助和掃描分析。KLA機配備了包括相機區域陣列、全局快門、逐行掃描相機在內的多種傳感器和成像系統。這些傳感器可以在從光掩碼到晶圓的各種檢查中快速檢測缺陷,如隨機和系統的缺陷。該工具還利用了先進的光學器件,如遠心透鏡和衍射光學器件,以及用於靈活數據分析和報告的專有軟件。該資產的軟件使用戶能夠將復雜的算法應用於檢查任務,包括表面評估、圖像識別和偏差分析。此外,它還能夠進行一種稱為連續過程監視器(CPM)的缺陷檢測。CPM可以在制造過程中實時檢測、表征缺陷並發出警報。KLA 2131旨在減少口罩和晶片的檢驗時間,幫助制造商降低成本並提高產量。該模型還通過允許在單個晶片上同時檢測多個模具以及縮短檢測時間來提高吞吐量和產量。該設備具有許多功能,使操作和維護更加容易。其中包括用於控制的直觀用戶界面、用於輕松操作的觸摸屏以及用於輕松訪問數據、診斷和其他功能的直觀命令。該系統還能夠使用自動校準過程來加快設置和校準時間。TENCOR 2131掩模和晶片檢測儀是半導體工業中一種堅固、精確可靠的機器。它將先進的光學和成像技術與先進的軟件相結合,以提高生產力和質量保證。該工具使用戶能夠減少檢查時間和成本,同時提高產量和吞吐量,提供可靠、高效的檢查解決方案。
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