二手 KLA / TENCOR 2131E #9384645 待售

ID: 9384645
優質的: 1994
Wafer inspection system 1994 vintage.
KLA/TENCOR 2131E是為半導體工業設計的高性能、掩模和晶圓檢測設備。它是KLA系列多通道、基於圖像的檢測系統中的最新產品。該系統采用了一系列先進的計算工具和技術,為檢查晶片、掩模和其他復合零件提供了全面、系統的方法。KLA 2131E基於TENCOR TrueImage Technology平臺,由一套高級檢查算法和成像工具組成。該裝置能夠檢測被檢查物品表面的汙染、缺陷、缺陷和變化。此外,機器可以測量尺寸、角度、公差等重要參數。先進的檢測工具還利用了獲得專利的MaxBright Sensor Technology,與以前的型號相比,它產生了優越的圖像質量。此技術可確保不遺漏被檢查對象表面的詳細信息。該資產采用高精度、數百萬像素的CMOS成像傳感器,每幀可提供高達1200萬像素的圖像。TENCOR 2131 E還提供了一系列專門為高效和全面缺陷評估而設計的檢查程序。這種最先進的模型具有直觀的用戶界面,使用戶能夠輕松地選擇最合適的檢查標準和參數。2131 E提供快速可靠的性能,最大吞吐量速率高達每小時14000晶圓。該設備提供同類設備中最高的吞吐量速率,在運行過程中實現高利用率。它還提供了減少周期時間和近乎無限的即時數據收集和分析能力。此外,KLA/TENCOR 2131 E配備了先進的故障診斷系統。這使用戶能夠快速識別和排除潛在問題,減少停機時間並提高效率。該單元還允許實時晶片跟蹤分析,大大減少了設置時間,加快了生產速度。總體而言,2131E是一臺功能強大、準確、高效的掩模和晶片檢測機,可以幫助確保最高質量的結果。其先進的功能使其成為市場上最先進的系統之一,使其成為許多企業和行業的理想解決方案。
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