二手 KLA / TENCOR 2132 #293595763 待售

KLA / TENCOR 2132
ID: 293595763
晶圓大小: 6"-8"
優質的: 1995
Wafer inspection system, 6"-8" 1995 vintage.
KLA/TENCOR 2132是一種全自動的掩模和晶圓檢測設備,設計為滿足生產線環境所需的極端精度和精確度。KLA 2132具有高分辨率相機、先進的圖像處理和自動化的3D測量功能,為各種檢查任務提供了高效可靠的解決方案。該系統能夠測量各種缺陷特性,包括形狀、大小和方向方面的缺陷,這些缺陷是傳統方法無法檢測到的。它包括智能缺陷檢測功能和分類,允許快速進行案例比較。其特點包括集成缺陷檢測、先進晶圓分辨率、厚度測量和多層檢測。3 D測量功能允許它檢測蒙版和晶圓上的高度變化,從而即使在曲面上也能精確測量。該設備具有高度的可配置性和可擴展性,可滿足眾多用戶需求。此外,還可以使用許多自定義工作流對其進行編程,從而使用戶能夠快速輕松地調整參數以進行特定檢查。其直觀的圖形用戶界面便於設置多種語言,並配置為能夠以多種格式共享測量數據。TENCOR 2132利用幹涉測量、光致抗蝕劑分析、計量成像等先進的圖像處理技術,提供了極其精確、細致的檢測結果。其自動視覺機利用機器學習和圖像識別技術,快速、方便地檢測和識別缺陷,提高準確性,減少用於檢查的時間。該工具與廣泛的掩模和晶圓尺寸兼容,使其成為半導體生產線的理想選擇。它還可以滿足各種生產要求,確保其與高級流程的兼容性。這樣可以確保資產始終能夠支持最新的生產技術。綜上所述,2132是一種高度先進和先進的掩模晶片檢驗模型,旨在提高精度和精度,提高檢測時間和產量,降低生產成本。擁有廣泛的配置選項,非常適合所有生產線和半導體制造商。
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