二手 KLA / TENCOR 2132 #9009026 待售
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ID: 9009026
晶圓大小: 8"
Wafer defect inspection review system, 8"
System controller
Power module.
KLA/TENCOR 2132是一種掩模和晶片檢測設備,設計用於檢查和分析高度重復和復雜的晶片和掩模結構。KLA 2132系統具有精確、高效的掩模和晶片檢測功能,能夠制造出具有一流產量的先進電子設備。該單元由低噪聲光學傳感器組成,能夠分析微米級特性。它還包括一個高分辨率的掃描頭以檢查具有不同標記和模式的結構。TENCOR 2132機器支持廣泛的應用,如缺陷檢測和故障分析、宏檢查、間隙驗證等。它可以同時從四種結構中檢測多達十二個缺陷。此外,2132甚至可以檢查最復雜的結構,包括多層和圖像陣列。該工具的定制設計的低噪聲光學設計能夠檢測潛伏缺陷或小芯片,而傳統的光學探測器無法識別這些缺陷。高分辨率掃描頭提供結構的精確、詳細分析和自動圖像比較。資產的晶圓級檢測能力保證了最佳收益率。該模型還包括一個直觀的用戶界面,它提供了簡單易行的控制面板操作。該設備具有自動配方轉移能力,預裝了大量的檢驗配方和操作。它還有一個專利導航器工具,能夠進行系統和可重復的檢查。KLA/TENCOR 2132還支持高級報告和過濾功能。它配備了深入的圖像審閱軟件,能夠以原始或柵格格式進行深入的圖像分析。它支持全面分辨率、缺陷分類和最大對比度設置。該系統還具有先進的數據分析和報告能力,大大提高了結果的準確性。KLA 2132是為最嚴格的掩模和晶圓檢驗要求而設計的,提供了極好的質量保證結果。TENCOR 2132具有先進的光學和缺陷檢測系統以及用戶友好的界面,是一種可靠、高效的設備制造工具。它是當今高度先進的半導體行業使用的理想選擇。
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