二手 KLA / TENCOR 2132 #9181746 待售

KLA/TENCOR 2132是一種高端的掩模和晶片檢測設備，設計用於通過光學識別和圖像分析快速準確地檢測半導體掩模和晶片圖樣缺陷。它能夠檢測各種類型的圖樣缺陷，從線寬、圖樣和組合的不準確到異物的存在，如顆粒、殘留物和劃痕。該系統采用先進的照明單元和KLA開發的圖像識別技術。照明機采用低級和高強度光源相結合的圖像捕捉，加上額外的照明源，使自動聚焦機制能夠完美捕捉銳利的圖像，盡管基板上存在功率變化。圖像分析和識別軟件也非常精密。結合算法和分析技術，如邊緣檢測、強度測量和濾波器操作，以高度精確的方式識別缺陷。此工具可以識別整個晶片或掩碼映射到單像素分辨率的缺陷。它還能夠精確檢測陣列區域中的微小變化。該軟件還具有一套工具,用於可視化、分析和報告檢查結果。這使用戶能夠快速輕松地與半導體制造過程的其他成員分享他們的發現。資產還包括各種高級參數，可以根據用戶需求進行定制。KLA 2132是一種高度可靠、用途廣泛的掩模和晶圓檢測模型。它提供了準確可靠的結果,同時消除了手動流程的需要。先進的檢測和分析功能,加上強大的可視化和報告功能,使其成為尋求識別和消除產品陣列缺陷的半導體制造商的理想解決方案。