二手 KLA / TENCOR 2133 #138914 待售

KLA/TENCOR 2133是為半導體器件高速、高通量而設計的掩模和晶圓檢測設備。該系統利用先進的圖像采集和采集處理技術，提供快速準確的缺陷檢測。該單元通過檢測晶片和掩模布局特征的微小變化來工作。KLA 2133使用多個高速相機對布局層進行成像和掃描。攝像機能夠快速捕捉和分析布局中確定的各個層。然後通過算法處理捕獲的圖像，以識別和檢測晶圓和掩碼布局特征中的缺陷。這是通過檢測布局圖樣中非常小的變化來完成的，例如陰影或衍射圖樣。機器包括探測器、照相機和光學等硬件組件。探測器捕獲多個布局層,攝像機捕獲數據。光學器件將光聚焦並對準刀具中的材料。資產中的光學元件使相機能夠準確地捕捉和分析數據。模型中的軟件組件包括圖像分析算法和視覺工具。這些算法旨在檢測布局模式中非常小的變化，並確定存在的缺陷類型。視覺工具允許將多層信息組合在一起。這有助於生成布局中特征缺陷的完整圖片。TENCOR 2133為掩模和晶圓檢測提供了幾個優點。設備可靠準確，能檢測最小缺陷，能以非常快的速度工作。系統還能夠檢查多層並快速處理數據。此外,該單元具有成本效益,並提供易於使用的用戶界面。所有這些優點使得2133成為掩模和晶圓檢測應用的絕佳選擇。