二手 KLA / TENCOR 2133 #293747979 待售

KLA/TENCOR 2133是一種用於識別半導體晶片缺陷的掩模和晶片檢測設備。利用128束激光器，結合先進的光學工程技術，將光束射向晶片，測量其地形。然後系統使用算法來確定表面缺陷或缺陷的存在。它能夠在一次掃描中對多達50,000個樣品站點進行成像,使其成為檢查各種制造工藝的大型集成電路芯片的理想工具。KLA 2133單元配備了高靈敏度激光成像和非接觸、無損表面檢測方法。這使機器能夠檢測到各種表面特征,從針孔等小缺陷到線條和劃痕等大特征。此外,該工具使用的先進光學和成像技術使其能夠檢測極小的缺陷,從而為用戶提供樣品站點的高精度圖像。該資產可以在一個批次中檢查多個晶片，並且能夠並行運行多個檢查作業。這樣可以同時處理多個晶片,而不會犧牲精度或浪費等待圖像處理和分析的時間。該模型還具有高度的開發人員靈活性,並配備了功能強大的腳本工具,可自動執行流程並允許根據用戶需求進行自定義。該設備的視覺檢測技術非常適合缺陷檢查，使技術人員能夠智能診斷和識別模式異常。此外，該系統能夠繪制表面地形，並能提供平坦度、表面粗糙度、傾斜、變形和其他物理測量。最後，TENCOR 2133單元是晶圓檢測極其可靠高效的工具。它提供了準確的結果和精確的缺陷位置,使用戶能夠快速減少錯誤並排除生產問題。它是半導體制造的理想工具，也是任何希望可靠地識別晶片或掩模缺陷的生產商的寶貴資產。