二手 KLA / TENCOR 2135 #9230398 待售

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ID: 9230398
晶圓大小: 8"
優質的: 1996
Wafer inspection system, 8" 1996 vintage.
KLA/TENCOR 2135是一種掩模和晶圓檢測設備,旨在最大限度地提高吞吐量,為半導體芯片檢測過程帶來無與倫比的精度。該系統基於一個並行的光子學傳感器網絡,以及一個強大的成像子系統來檢測和區分集成電路表面的圖樣、缺陷和材料。KLA 2135使用先進的激光測距技術,從先進的半導體設計中檢查復雜的光掩模和標線。該裝置設計為能夠快速檢測和分析晶片上復雜的形狀和圖案,檢測表面的任何缺陷或不規則性。通過使用高功率激光器,它可以檢查到納米級的特征,提供當前系統無法達到的精度水平。該機器采用最新的光學成像和檢測技術來區分晶圓上和集成電路內的不同材料。高級軟件設計用於識別暴露的通氣、接觸點之間的橋接以及晶體管未對準等缺陷。還可以對其進行調整,以檢測各種外來材料,包括汙染物和電介質。TENCOR 2135為操作員提供了對掩模和晶圓檢測參數的廣泛控制。可用於調節激光束的曝光水平、增益和強度。此外,該工具還可以檢測出應力、氧化、汙染和不透明度的耐受性。這樣,資產就能快速準確地識別出問題,從而對集成電路進行精確準確的調試和修復。2135還具有報告結果的高級選項。它能夠保存高分辨率圖像、標準測試模式和結果圖供以後查看。這使得運算符可以輕松快速查看以前測試的數據,從而為解決問題提供了強大的工具。總體而言,KLA/TENCOR 2135是一款功能強大的掩模和晶圓檢測模型,為半導體芯片生產過程帶來無與倫比的精度和速度。它采用先進的光學、成像和檢測技術,能夠快速、輕松地執行高度精確的檢查和識別小缺陷。集成式報告設備易於審核和存儲測試結果,非常適合快速可靠地解決問題。
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