二手 KLA / TENCOR 2139 #9390473 待售

KLA/TENCOR 2139是一種用於檢測半導體晶片缺陷的掩模和晶片檢測設備。該系統結合了自動光學檢查單元和晶片處理以及先進的多工具分析能力，對各類掩模和晶片提供超快、無損的評估和缺陷表征。該機器具有自動化環境,包括高分辨率自動聚焦、晶片裝卸和高精度多陣列支持。硬件利用大視場來識別無缺陷晶片上高達8 µm的缺陷。為了進一步增強缺陷檢測功能,該工具可以利用高級對比度調制和高級算法來檢測多種故障模式。KLA 2139提供自動缺陷表征功能,包括自動草繪、物理形狀測量、拓撲和圖像模式分析,可幫助快速、精確地識別各種缺陷。此外,該資產還提供數據傳輸和存儲,用於從缺陷檢查過程中捕獲原始圖像,並為客戶提供高保真缺陷圖像。該模型還能夠運行自動配方，使客戶能夠減少分析晶片或掩模所需的時間。這也消除了在執行自動缺陷檢查時需要手動幹預的需要。該設備還具有先進的缺陷分析功能,能夠快速準確地檢測產量限制缺陷。為確保可靠準確的數據,TENCOR 2139提供自動化的系統校準和監控選項,確保設備性能得到維護,並實現客戶對機器的完全信心。此外,它還支持控制,包括光、背景、高壓、探測器以及不同光學傳感器和圖像傳感器之間的同步。總體而言,2139是半導體行業先進的自動化光學檢測工具,它提供了超高速缺陷檢測功能,並能夠利用高級算法和分析來準確地表征和量化掩模和晶片上的缺陷。因此，它是幫助半導體制造商保持競爭力的寶貴工具。