二手 KLA / TENCOR 2350 #9250155 待售

KLA/TENCOR 2350是一種用於生產微電子器件的掩模和晶圓檢測設備。它結合了成像技術、先進的模式識別算法和高精度的叠加測量來檢測掩模和晶片的缺陷。它的設計目的是提供精確和可靠的缺陷測量，即使在復雜的模式。KLA 2350使用掃描電子顯微鏡（SEM）對集成電路、掩模和晶片成像。這使得它能夠檢測到最小的缺陷。利用專門為自動檢測設計的算法，TENCOR 2350可以檢測殘留和氧化等顆粒和基於模式的缺陷。高性能圖像處理器用於快速檢測缺陷,而強大的光濾鏡和信號/噪聲處理技術可實現準確可靠的測量。該系統還可用於表征晶片模式和驗證質量控制和過程控制標準。其先進的叠加測量能力使用開源算法來計算采樣結構的模式和叠加精度。這有助於確保準確的生產,提供更快的周轉時間和更高的吞吐量。2350可與其他系統集成,使生產線操作員能夠輕松高效地檢測缺陷,而無需手動檢查每個晶片。是半導體制造、晶圓制造和質量控制的理想裝置。該機還便於攜帶，易於安裝和使用。該工具生成的測量值非常精確且可重復。綜上所述，KLA/TENCOR 2350是一種高度精確可靠的掩模和晶圓檢測資產。它結合了成像和模式識別算法來檢測甚至最小的缺陷，並且可以與其他系統集成，以便更高效和方便的質量控制。該模型提供了一種快速可靠的缺陷檢測方法，使其成為半導體制造、晶圓制造和質量控制的理想解決方案。