二手 KLA / TENCOR 2371 #9313879 待售

KLA/TENCOR 2371是一種頂級的掩模和晶圓檢測設備，提供對半導體模式的全面分析和表征。該系統結合了先進的光學、傳感器、信號處理電子和軟件，以高精度、重復性和靈活性產生圖像。用於高精度半導體和集成電路器件的制造和檢測以及平板顯示器的制造。KLA 2371使用激光、成像傳感器和光學元件的組合來掃描、識別和處理被檢查材料中存在的模式。計算機輔助檢查（CAI）單元識別掃描材料中的模式,並將其與先前存儲的參考模型進行比較。機器還利用強大的軟件來繪制模式質量、缺陷、線寬以及其他被檢查的參數。該工具采用高分辨率光學顯微鏡，能夠進行亞微米成像。它與基於高速檢流計的光學資產集成在一起，提供水平和垂直自動級掃描能力。該模型提供了一種先進的特征檢測能力，能夠檢測到亞微米大小的缺陷，還可以識別顆粒和殘留物。TENCOR 2371能夠同時進行破壞性和無損性測試。設備配備了多種模式識別算法、自動模式識別軟件、自動故障檢測分類、幫助識別因材料應力導致的系統故障的後處理以及強大的圖形顯示等多種功能。此外,它的編程軟件為用戶提供了執行多個用戶定義的檢查的能力,包括顏色對比度、蒙版對齊、拍攝到鏡頭掃描、叠加驗證、軸傾斜和圖像放大。2371專為生產環境而設計，為檢測多路半導體掩模和晶片提供了全面的解決方案。它完全可配置，以滿足復雜、專門的程序需要，並且可以很容易地與線上的其他設備集成。總而言之，KLA/TENCOR 2371系統為檢測多路半導體掩模和晶片提供了全面的解決方案。憑借其強大的光學、傳感器、信號處理電子和軟件，它為用戶提供了為其掩模和晶圓檢查任務實現精確和可重復結果的靈活性。該單元適用於各種生產和檢驗環境，有助於減少時間、成本和缺陷。