二手 KLA / TENCOR 2401 Viper #9014087 待售

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ID: 9014087
優質的: 1999
Automated macro-defect wafer inspection system Brightfield and darkfield inspection Throughput: 80 Wafer/hour Recipe-configurable pass / Fail settings Camera and optics calibration capability Windows NT user interface Hard drive missing Frequency: 50/60 Hz Volts: 100-240 Power: 200-240, Single phase 1999 vintage.
KLA/TENCOR 2401 Viper是一種掩模和晶片檢測設備,提供高水平的性能和準確性。該系統非常適合檢查平片以及蒙版、標線和其他接觸基板上的3D曲面。KLA 2401 Viper使用高分辨率CCD檢測器,可用於檢查高達30 nm音高的細節。探測器還能夠捕獲廣泛的成像角度,使設備能夠從各種成像角度獲取高精度反饋。毒蛇照明器提供多種光譜來捕捉,包括紫外線、VIS、NIR和AR。機器可以配置為使用各種4路濾波器和激光器,允許更大的靈活性和控制。毒蛇配備了先進的成像算法,可以檢查光學和晶圓缺陷種類,以及由於光刻造成的像差。Viper提供快速的檢查時間(通常為1-2秒),最多可存儲4000張圖像供以後查看。在用戶界面方面,TENCOR 2401 Viper擁有直觀的GUI,可以讓用戶快速高效地控制工具。操作面板有5個鍵盤按鈕,用於逐步培訓和參數設置。該資產還配備了先進的分析模型,可以方便地比較圖像,以及存儲單個圖像以供以後審查。2401 Viper通過結合高效編程、先進的成像算法、快速成像時間、直觀的用戶界面和高分辨率成像功能,提供可靠準確的檢測結果。該設備是一種經濟高效的方式,以保持密切標簽上的表面缺陷的標線,面罩或其他接觸基板。該系統可作為商業和研究環境的寶貴資產,提供質量控制和保證,確保所需的產品或研究成果。
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