二手 KLA / TENCOR 2401 Viper #9160676 待售

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KLA / TENCOR 2401 Viper
已售出
ID: 9160676
優質的: 2002
Wafer defect inspection system 2002 vintage.
KLA/TENCOR 2401 Viper是集成電路器件制造過程中使用的一種掩模和晶圓檢測設備。該系統利用先進的光學、照明和圖像處理技術,提供當今可用的最高分辨率、最高速度和最可靠的分析。該單元由強大的成像引擎、高分辨率成像陣列和S2535運動控制機組成。該成像引擎采用1600萬像素CCD相機,配有專用光學器件,可提高紫外線-VIS-IR範圍內的靈敏度。這使得KLA 2401 Viper可以捕獲和檢查最小的缺陷,如劃痕、劃痕、汙染物、殘留物和顆粒。高分辨率成像陣列由多達800萬像素組成,與非縫合解決方案相比,可提供高達8倍的分辨率。它還通過其高動態範圍提高了檢測精度。S2535運動控制工具配備了運動反饋資產,允許在x、y和z軸上進行精確且可重復的運動。這確保了光學器件與掩模或晶片表面的最佳聚焦和相對定位。TENCOR 2401 Viper配備了多種用於檢查、分析和報告的軟件工具。它使用獲得專利的Smart Imaging Analysis技術提供快速、可靠和可重復的分析。此外,它還利用模式識別技術來識別缺陷。與傳統的檢查方法相比,這可以減少誤報並提高吞吐量。它還可以連接到外部數據庫和文件系統,從而實現數據管理和可追蹤性。2401 Viper非常適合要求高分辨率、高通量和高精度進行掩模和晶圓檢測的半導體制造商。它旨在用於缺陷檢測、顆粒分析、計量、產量提高和其他過程控制需求等一系列應用。KLA/TENCOR 2401 Viper易於集成到制造過程中,可以連接到現有的自動化系統。它還附帶了廣泛的配件和選項,允許用戶根據自己的特定需求定制模型。
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