二手 KLA / TENCOR 2435 Viper #9358463 待售

ID: 9358463
Macro defect system.
KLA/TENCOR 2435 Viper是為半導體工業設計的掩模和晶圓檢測設備。該系統對用於制造集成電路和其他相關設備的薄膜掩模和晶片進行了快速、可靠的測試。利用先進的光學檢測技術,該裝置能夠在納米級檢測掩模和晶片表面的缺陷。KLA 2435 Viper利用計量成像技術進行高度精確的測量,大大提高了其結果的準確性和可重復性。這臺機器是高度模塊化的,具有多層次的檢查能力和各種配置,具體取決於具體的應用程序。它采用傳送帶式設計,快速準確地移動口罩和晶片進行檢查。TENCOR 2435 Viper還具有稱為DV-SIM(數字視覺掃描和成像模塊)的先進激光技術。這項技術使用可變波長激光掃描物體和周圍區域的缺陷。它能夠捕獲三維數據,並且隨時間推移具有高度穩定的亞像素精度。該工具還包括一整套用於控制資產、分析數據和生成準確報告的軟件工具。它設計為與PC或控制臺一起使用,以便於使用。2435 Viper符合SEMI等行業標準,並提供詳細的自動化報告。總體而言,KLA/TENCOR 2435 Viper是一種用於掩模和晶圓檢測的可靠解決方案。其先進的光學檢查技術、模塊化設計和軟件工具使其成為半導體工業應用的強大工具。它提供了快速、精確的檢查,並且可以根據應用程序的具體需求進行定制,以實現最高的準確性和效率。KLA 2435 Viper是在制造和生產環境中實現可靠和一致結果的理想模型。
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