二手 KLA / TENCOR 2552 #293616227 待售

ID: 293616227
Wafer inspection system.
KLA/TENCOR 2552掩模和晶片檢測設備是一種通用、快速、準確的檢測系統,可掃描各種材料。它的工作原理是用光源照亮要檢查的物品,然後用高分辨率CCD相機或光學顯微鏡捕捉物品的圖像。該裝置能夠測量所有類型的模具、掩模和晶片材料的關鍵尺寸和特征檢測,從晶圓和MEMS設備到納米級特征。該檢測機提供先進的成像功能、快速的數據采集速度、實時圖像處理以及精密的分析引擎,可以輕松操作。KLA 2552通過其自動顯微鏡照相機和光學對焦寄存器,提供即使是最具挑戰性的模具和掩模計量任務的自動化、高分辨率成像。其介電屏障工具(DBS)增加了更大的功率,允許在高分辨率成像和數據收集領域高效收集TB的數據。DBS功能使用了先進的信號處理算法,在檢測模具或掩模表面的缺陷和其他功能方面提供了顯著的改進。再者,資產具有可調的工作距離,可根據需要在8至20毫米之間進行調整,非常適合檢查較大的模具。這輔之以其先進的光學機械設計,包括Microner Opti-stable Specular Finish,確保放置在模型內的光學濾鏡在整個檢查過程中穩定可靠。TENCOR 2552掩模和晶圓檢測設備還配備了許多其他功能和功能,使其能夠最大限度地提高任何檢測工作的準確性和可重復性。這包括自動化數據分析、元數據捕獲和測試結果通知,從而實現可靠且可重復的測試結果。再者,它的可升級軟件包可以提供額外的功能,包括特征檢測和源檢測、缺陷檢測和分析、區域覆蓋分析和過程分析。綜合軟件包還包括晶圓映射軟件和註冊標記工具,提高了系統數據捕獲和結果的準確性。所有這些結合使得該單元成為任何掩模或晶圓檢查任務的理想解決方案。那些為模具、掩模或晶圓應用尋找有效、高效和可靠的檢測機的人應該只看2552。
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