二手 KLA / TENCOR 2608 #9083810 待售

KLA/TENCOR 2608是一種專業的掩模和晶圓檢測設備，能夠以高精度快速檢測半導體生產中的缺陷。該系統由激光散射儀和晶圓設計監視器組成，該監視器能夠快速識別和測量晶圓圖像中的臨界尺寸變化。激光散射儀能夠在掩模/晶片的表面上捕捉到細微的細節，設計用於以高度精確的精度分析粒子尺寸和圖案變化。它可以檢測0.3 μ m或更大的粒子，並能夠識別厚度小於0.1 μ m的粒子。單位還可以測量每個粒子的大小、形狀和位置，幫助識別任何可能被忽視的缺陷。晶圓設計顯示器由集成數字成像處理器提供動力,該處理器提供了一個虛擬平臺,用於確定觀察到的缺陷是否符合設計規範。它能夠從晶片或掩模中捕獲高精度的光學數據，然後分析這些數據，以便準確預測潛在的工藝或產品問題。該監控器有助於及早發現潛在缺陷，因此改進了半導體制造的質量控制過程。KLA 2608是一種通用工具,可集成到一系列不同的工藝和生產系統中。它能夠同時執行多模具檢查,其先進的缺陷成像功能有助於識別當前和過去的缺陷。這種強大的圖像捕獲和分析功能允許對晶片和掩模進行全面檢查,從而能夠快速檢測到任何不規則性。TENCOR 2608具有強大的設計和先進的功能,是尋找快速、可靠和準確檢測結果的半導體生產環境的理想選擇。該機器旨在提供高生產率、精確度和準確性,以確保所有最終產品均符合行業標準和客戶期望。