二手 KLA / TENCOR 2810 #9236214 待售

看起來這件物品已經賣了。檢查下面的類似產品或與我們聯系,我們經驗豐富的團隊將為您找到它。

KLA / TENCOR 2810
已售出
ID: 9236214
晶圓大小: 12"
Patterned wafer inspection systems, 12" Dual load ports.
KLA/TENCOR 2810是用於半導體制造行業的理想的掩模和晶圓檢測設備。它旨在提供高精度、自動化的對面罩、晶圓和其他基板的檢查和測量。該系統采用KLA突破性四單元掃描光學顯微鏡(QC-MOS)技術和專用軟件,以最高的精度提供優異的效果。KLA 2810能夠檢查正面和背面的計量應用,從最復雜的面罩和晶片到最大的晶片,以及包括矽、玻璃或康寧1737等材料在內的多種基材。該裝置的晶片級吞吐量高達每小時95個晶片,並提供了檢測小至2.5微米缺陷的卓越能力。在TENCOR 2810中使用的QC-MOS技術提供了比傳統光學顯微鏡更好的靈敏度和在低假缺陷率下的缺陷檢測。它具有四個以模型排列的顯微鏡,每個顯微鏡聚焦在不同的距離、視點和偏振方向。該機器利用CCD攝像機以每個晶圓不同的放大和偏振來捕捉六個圖像,從而能夠對缺陷、特征、汙染和劃痕進行極其精確的測量。TENCOR專有軟件也可以與2810配合使用,使用戶能夠更有效地分析和管理數據。它還提供實時開放平臺,允許用戶在幾分鐘內開發、修改和測試晶圓圖像。除了性能能力外,KLA/TENCOR 2810還設計為易於使用,具有直觀的控件和可選擇數量的程序。該工具擁有一整套實用程序,如自動聚焦算法和自動濾波器,這有助於確保最高的準確性和可靠性。KLA 2810是尋求具有卓越精度和精確度的自動化檢查和測量解決方案的企業不可或缺的工具。其先進的QC-MOS技術、專有軟件和可定制控件使其成為有經驗和新手用戶的理想選擇。由於能夠識別極小的缺陷,資產有助於防止成本高昂的生產延誤和提高產量。歸根結底,TENCOR 2810模型是希望在確保最優質產品的同時實現效率和產量最大化的企業的理想解決方案。
還沒有評論