二手 KLA / TENCOR 2830 #9401094 待售

KLA/TENCOR 2830晶片測試計量設備是自上而下實時晶片級檢測和缺陷檢測應用的綜合解決方案。該系統將大的動態範圍成像與小的占地面積相結合，對缺陷部位進行了有效的復查。該單元用於測試和分析晶圓結構的動態範圍和粒子特性，包括從微米到亞微米的特征大小。此外，該機器還可用於其他關鍵晶片級測試，如橋接、蝕刻和工藝表征。KLA 2830工具利用現場發射器陣列（FEA）技術提供高分辨率圖像,最大分辨率為64微米/像素。該資產還提供各種性能選項,如全區域特性、自上而下的成像、粒子檢測和計量。此外，該模型利用獨特的光傳輸技術來拍攝和檢測粒子，允許用戶檢測小至0.2 um的粒子。TENCOR 2830還包括為用戶提供自動化和改進的測試功能的高級軟件。特點包括具有適應性的數據分離和收集能力，以促進對數據的有效審查。其他值得註意的軟件功能包括功能強大的搜索引擎、缺陷分類和註釋、詳細的統計數據分析和可視化報告。對於用戶友好的設備操作和強大的性能,2830系統具有直觀的交互式圖形用戶界面。界面允許用戶查看各種單元設置，快速分析數據。機器還為用戶提供了存儲和召回設置以及快速備份數據的能力。KLA/TENCOR 2830晶圓測試和計量工具提供一流的靜態和動態測量和分析功能。其占地面積小，動態範圍大，是大規模生產和檢驗晶片的理想解決方案。此外，它還擁有一系列先進的軟件功能和直觀的用戶界面，是晶圓級測試和分析的強大而可靠的工具。