二手 KLA / TENCOR 3905 #9303266 待售

KLA / TENCOR 3905
ID: 9303266
Wafer Inspection system.
KLA/TENCOR 3905是一種高速掩模和晶圓檢測設備,設計用於提供缺陷識別和驗證。該系統提供了一種成本效益高、可靠的方法,用於識別芯片和其他半導體光刻工藝中的潛在缺陷。KLA 3905由先進的數字信號處理器(DSP)提供支持,允許快速檢測和分類缺陷。該設備配備了一個成像子系統,可提供高分辨率的缺陷圖像。它還具有先進的邊緣檢測算法,可以準確識別邊緣、裂紋、模糊和其他異常。此外,它還有一個照明子系統,提供垂直和水平照明,以清楚地識別缺陷,即使它們相互重叠。TENCOR 3905的檢測速度比其他大多數檢測技術快10倍,使其成為速度驅動檢測操作的寶貴工具。該單元還提供兩種檢查準確度:手動檢查(用於極小尺寸的非臨界缺陷)和增強檢查(用於較大尺寸的臨界缺陷);這樣可以提高故障識別的準確性。此外,3905還可以捕獲28nm特征尺寸的詳細圖像,從而能夠用於復雜的芯片設計。KLA/TENCOR 3905除了速度和精度外,設計為低維護;它需要不到8小時的年度維護,並且缺少任何消耗品,因此它是一個經濟實惠且可靠的設備。該機具有各種特點和功能,專為在潔凈室環境中運行而設計,完全符合公認的行業標準。總體而言,KLA 3905是一種有效和可靠的掩模和晶圓檢驗工具,適用於那些尋求確保半導體制造無瑕疵光刻的人。它結合了速度、精度和成本效益,使其成為半導體行業中任何人的寶貴資產。
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