二手 KLA / TENCOR Archer 10 XT+ #9313119 待售

ID: 9313119
晶圓大小: 12"
優質的: 2006
Overlay inspection system, 12" 2006 vintage.
KLA/TENCOR Archer 10 XT+是為高性能晶片缺陷和表面分析而設計的掩模和晶片檢測設備。利用高分辨率成像技術,KLA Archer 10 XT+能夠對30 μ m以上深度的最小晶圓顆粒和缺陷進行高通量檢測。結合高速、多光譜光源,TENCOR Archer 10 XT+非常適合於面罩對準、模具粘合和標線檢查等關鍵過程控制應用。Archer 10 XT+具有直觀的圖形用戶界面,旨在簡化檢查結果的獲取、分析和報告。此用戶友好界面允許調整多種設置,包括放大倍率、光源和電機控制。此外,該系統還能夠通過集成兩個檢流計反射鏡實現微自動對焦和微點計量,這有助於確保實現高分辨率篩選。該部門的軟件與奧林巴斯、Applied Materials和KLA的領先行業數據平臺完全兼容。這樣可以在各種應用程序中實現易用性和數據兼容性。此外,該機還具有獨特的分析引擎,旨在簡化數據分析,允許快速準確的檢查。KLA/TENCOR Archer 10 XT+具有令人印象深刻的功能列表,是高級晶圓檢測的高級通用工具。其直觀的用戶界面、先進的軟件和微自動對焦技術相結合,產生準確高效的結果,使其適合各種關鍵過程。從掩模對準到模具結合,KLA Archer 10 XT+是高精度晶圓檢測的有效工具。
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