二手 KLA / TENCOR Archer 100 AIM #9261844 待售

KLA/TENCOR Archer 100 AIM是半導體工業中使用的掩模和晶圓檢驗設備，使用戶能夠大幅提高排便識別和自動化水平。該系統包括自動晶片檢查和圖案化薄膜掃描,同時提供與KLA系列產品相同的卓越性能。KLA Archer 100 AIM具有堅固的舞臺和寬大的垂直行程範圍,可容納300 mm的基板尺寸。這使用戶無需人工幹預即可快速檢查各種口罩。該單元使用高級算法來識別即使是其他類型的檢查通常會遺漏的最小缺陷。它還能夠檢測和成像圖樣成像膜中小至2mm和深至30um的缺陷。TENCOR ARCHER 100AIM還擁有一系列專利的自適應光學器件和多達9個光源，從而增強了缺陷檢測和成像的控制和準確性。它提供可調節的白平衡、強度和對比度設置,以有效地照亮所有目標表面。此外,它還包括自動掃描預覽模式,可以在對缺陷成像之前快速隔離和識別它們。ARCHER 100AIM還配備了增強的缺陷審查軟件工具，以便於可視化、隔離和量化缺陷。它提供屏幕顯示和「缺陷圖」功能,可用於分析多個檢查點的缺陷。與其他技術相比,它的高速圖像捕獲功能還支持更快的缺陷成像和更準確的結果。KLA ARCHER 100AIM是半導體行業缺陷檢測和質量保證的理想解決方案。這臺先進的檢查機提供全面的缺陷檢測、成像和審查功能,使其成為眾多應用程序的可靠且經濟高效的選項。