二手 KLA / TENCOR Archer 100 #9372751 待售

KLA/TENCOR Archer 100是一種掩模和晶圓檢測設備，結合了先進的光學和圖像處理，能夠及早發現和診斷半導體制造中的缺陷源。憑借其模塊化體系結構和高級功能,KLA Archer 100大大減少了與傳統檢驗和缺陷分類技術相關的時間和成本,為用戶提供了對產品質量的信心。該系統具有獨特的相關光學顯微鏡CropScan™,它結合了自動逐模滾動和業界最佳的低放大成像能力,可以在用於自動檢查的同一視圖中快速準確地對缺陷進行分類。該單元還利用先進的GVision™圖像采集和分析機器檢測缺陷，並將其歸類為臨界、非臨界或無缺陷，在半導體工藝流程的所有階段提供產品保證。TENCOR Archer 100使用戶能夠以高達32K的分辨率捕獲高達8英寸晶片的詳細模具圖像,從而能夠高清識別低至幾微米的缺陷。自動模式匹配使工具能夠識別和標記最小和最微弱的缺陷,並根據用戶設置的標準自動拒絕或接受掩碼/晶片。為確保操作簡單直觀,Archer 100采用基於觸摸的圖形用戶界面,用戶可以輕松控制資產並快速設計新配方。該軟件還包括強大的數據管理和報告生成功能,以確保制造的可追蹤性和可重復性。KLA/TENCOR Archer 100可集成到現有工作流程中，與一系列半導體制造和計量儀器兼容，為用戶提供了半導體制造業不斷擴展的解決方案生態系統。該模型的故障率低，安裝過程簡單，為用戶提供了一個可靠、經濟高效的掩模和晶圓檢測解決方案。