二手 KLA / TENCOR Archer 200 AIM #293614970 待售
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KLA/TENCOR Archer 200 AIM是為半導體工業設計的最先進的面罩和晶圓檢測設備。該系統用於分析晶片和掩模在制造過程中的質量並確保其性能。該設備基於公司獲得專利的Sensing Technologies,可實現靈活、快速、方便的檢測過程。它使用GraniteTM AI驅動的掩碼檢查器來檢測掩碼上的模式、缺陷和變化。該機器還包含一個集成的Reticle Inspection Platform（RIP），可以檢測用於制造集成電路芯片的光掩碼上的模式異常和其他不符合性。KLA Archer 200 AIM還搭載ILT HD Motors技術，進行高精度的表面平坦度和俯仰測量。該技術利用了一種獨特的圖像相關算法，可以在0.1微米的精度水平上檢測音高變化。此外,該工具還包括KLA高級自動缺陷審查（ADR）技術。此技術可幫助技術人員快速準確地識別傳統成像系統難以檢測到的小缺陷。TENCOR Archer 200 AIM的設計考慮到了易於操作,它利用了一系列用戶友好的控制界面和自動設置。它通過取消手動幹預和減少總體培訓時間來簡化設置和操作。此外,資產的靈活自動化功能允許不同的操作員輕松定制檢查參數,並實現更高的吞吐量和準確性。Archer 200 AIM的設計滿足了當今最嚴格的缺陷檢查要求,提供了最高水平的準確性和可靠性。它能準確檢測汙染、線厚差、分辨率差以及其他多種類型的缺陷，具有極好的重復性、重復性和可靠性。因此，KLA/TENCOR Archer 200 AIM是全球半導體行業晶圓和掩模檢測的領先選擇。
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