二手 KLA / TENCOR Archer 200 AIM #9255571 待售

ID: 9255571
優質的: 2011
Overlay inspection system 2011 vintage.
KLA/TENCOR Archer 200 AIM是一種用於半導體工業的掩模和晶圓檢驗設備。它是為快速自動對焦、膠片檢查和模具對準而設計的。KLA Archer 200 AIM具有高分辨率光學、激光自動對焦和光源技術、LED照明和自動圖像捕獲功能。它還具有很小的占地面積,非常適合自動化生產環境。TENCOR Archer 200 AIM采用針對半導體制造工藝優化的先進光學和電子技術。它有多個視頻源,用於同時檢查膠片和模具圖樣。照明系統可以在整個視場中創建均勻的光,提供高對比度成像精度。可選的激光自動對焦裝置通過快速準確地聚焦所需的目標提供了優異的效果。機器還提供自動圖像捕獲和存儲。它可以在毫秒內捕獲膠片和模具模式的圖像,並以多種格式存儲,包括TIFF和JPEG。它還支持多個圖像濾鏡和圖像分析。Archer 200 AIM的先進成像能力在檢查薄膜、晶片和模具方面提供了出色的性能。它旨在檢測各種形式的缺陷,包括短路、缺失零件和錯誤材料。它特別適合於檢測和分類線條邊不均勻,以及測量線條寬度、邊緣定義和未解決的打印特征。KLA/TENCOR Archer 200 AIM提供全面的模對數據庫可追蹤性,使其能夠完全集成到生產控制工具中。此外,該資產還具有直觀的用戶界面和多個級別的模型可訪問性,以便於培訓和維護。總體而言,KLA Archer 200 AIM是檢查和分析薄膜、晶片和模具的絕佳工具。其先進的光學和成像技術能夠對缺陷進行高效、準確的分析和解決。其直觀的用戶界面、多層次的設備可訪問性以及模對數據庫的可追蹤性也使其成為自動化半導體生產環境的絕佳選擇。
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