二手 KLA / TENCOR Archer 200 AIM #9267465 待售

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ID: 9267465
優質的: 2011
Overlay inspection system 2011 vintage.
KLA/TENCOR Archer 200 AIM是一種綜合性的掩模和晶圓檢測設備,旨在提供最大的圖像質量和過程控制。該系統配備了最新的先進成像技術,確保了對集成電路、MEM、復合半導體等的可靠準確的檢測。AIM利用獲得專利的Lightfield™成像技術,結合了光學、光電子和捕獲表面地形和圖樣信息的軟件。該單元還能夠同時對晶片兩側進行缺陷檢測,以及3D晶片檢測。由於其高吞吐量和傳感技術,Archer 200能夠在高分辨率和放大倍率級別上執行。它能夠檢測各種設備尺寸的細微缺陷和結構畸形。可變LED強度可以調整,進一步提升圖像質量,而彩色觸摸屏GUI則提供簡單直觀的用戶體驗。該機器具有強大的數據分析功能,以及針對各種應用領域的各種專門功能。這些包括用於模具成像和測量的專門分析功能,以及超快速圖像識別和自動對焦算法。此外,KLA工業級映像處理器提高了吞吐量,而內置的ASIC可以進一步提高運行時性能。AIM還能夠捕獲高度精確的特征數據,這要歸功於動態光學模擬、多角度采集和特征檢測算法等先進技術。該工具支持多個數據輸出和自動缺陷分類,為用戶提供最大限度的質量、過程控制和可靠性。KLA Archer 200 AIM緊湊的外形尺寸和靈活的配置選項使其能夠輕松滿足一系列用戶需求。該資產以其先進的技術、快速的速度和可靠的結果來滿足當前和未來的行業需求。
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