二手 KLA / TENCOR Archer 200 AIM #9407129 待售

ID: 9407129
優質的: 2010
Overlay inspection system 2010 vintage.
KLA/TENCOR Archer 200 AIM是一款功能強大的掩模和晶圓檢測設備,設計用於半導體制造工藝。設計了KLA Archer 200 AIM,以實現最佳的性能和可靠性,有效地檢查微電子元件。TENCOR Archer 200 AIM是一個高端、自動化的insitu面罩檢查系統,能夠檢查最優秀的結構和材料,如半導體工藝中使用的那些。該單元利用最新的成像技術、自動化缺陷檢測和審查技術以及模式識別來準確快速地檢測和識別復雜模式上的缺陷。射手200 AIM還具有廣泛的照明能力,可以量身定制以分析任何類型的缺陷或材料,如:亮場、暗場、紫外線檢查,以及LED背光、傾斜/旋轉和側面散射檢查。該機器包括高級軟件,可用於執行各種分析任務,包括缺陷檢測和映射、模內映射、過程屈服分析和缺陷表征。該軟件還允許進行各種圖像比較,例如批間檢查、臨界尺寸測量、暗場地下成像以及檢測不可見缺陷的能力。這可以用來快速識別根源問題,減少整個過程周期時間,提高產品產量。KLA/TENCOR Archer 200 AIM還可以與其他軟件和硬件系統集成,以實現對流程的全面查看。這可以包括來自虛擬計量系統和質量控制系統的軟件,以及硬件自動化組件,如機器人和倉庫系統。此外,KLA Archer 200 AIM還提供符合人體工程學的功能,例如自動處理和設置、彎曲顯示以及改進的工具控制訪問權限。總體而言,TENCOR Archer 200 AIM是一種先進的掩模和晶圓檢驗資產,旨在滿足最高性能的掩模檢驗要求。它能夠快速準確地檢測各種缺陷類型,並執行各種分析任務,以幫助提高流程產量和縮短流程周期時間。該模型還提供了出色的人體工程學,並且可以很容易地與其他軟件和硬件組件集成,從而能夠全面查看過程。
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