二手 KLA / TENCOR Archer 200 #293758108 待售

KLA/TENCOR Archer 200 Mask&Wafer Inspection Equipment （KLA/TENCOR Archer 200掩模晶片檢測）是現代集成電路微電子芯片上檢測、測量和檢測缺陷及模式的先進解決方案。該系統配有用於掩模和晶片檢查的自動檢查工具,提供業界領先的一系列自動化功能。該單元包括配備先進模式匹配和缺陷檢測算法的全視野機。該工具還包括一個光電倍增管（PMT）傳感器，用於高靈敏度和圖像對比度的低級計量。KLA Archer 200資產提供自動化的視覺檢查功能,具有許多功能,例如3D晶圓檢查和3D蒙版測試。它還具有缺陷檢測、測量和分類等一系列內置軟件功能。該模型具有增強的用戶界面，便於快速、方便地監控結果和顯示缺陷圖像。該設備還具有高效的表面成像和可調節的靈敏度，使缺陷檢測和測量具有極高的準確性。此外，TENCOR Archer 200 Mask&Wafer Inspection System裝有一個晶圓縫合器，用於組合同一晶圓的多個圖像。這有助於最大限度地減少丟失缺陷的機會,並減少返工和機組停機時間。該機還兼容各種檢查模式，如上側/下側檢查和全場表面成像。該工具由高端計算系統提供支持,可定制為大規模生產高密度設備提供端到端解決方案。其操作可以通過基於Web的GUI進行管理,該GUI簡化了控制設置過程並簡化了分析任務。總體而言,Archer 200 Mask&Wafer Inspection Asset旨在提供最佳的圖像質量和檢查性能。該模型是針對當今半導體行業檢驗要求的可靠、經濟高效的解決方案。