二手 KLA / TENCOR Archer 200 #9258488 待售

KLA / TENCOR Archer 200
ID: 9258488
Overlay inspection system.
KLA/TENCOR Archer 200是一種用於檢測光掩模和晶圓制造過程缺陷的掩模和晶圓檢測系統。KLA Archer 200具有高速度和分辨率,可以快速準確地識別和分析缺陷的形狀和大小,從而使用戶能夠緩解質量問題。它還提供了對晶片兩個表面缺陷的準確檢查,並且可以檢測到多種大小和類型的缺陷。TENCOR Archer 200的板載功能包括一個專利的高解析度X射線標線檢查選項,即使檢測到最小的邊緣缺陷。此外,它還可以獲取各種角度的缺陷圖像,以更好地查看和診斷晶圓的缺陷。Archer 200還提供可編程照明和投影系統,使其能夠調整設置以滿足特定的客戶需求。除了出色的缺陷檢測能力外,KLA/TENCOR Archer 200還通過關鍵創新簡化了工作流程。它具有自動化功能,包括bokeh-effect背景去除和自動反射檢測,允許用戶快速定位和識別缺陷。此外,它的雙百萬像素成像使用戶能夠提高檢查其缺陷檢查的速度和準確性。KLA Archer 200的多種查看模式也可以快速分析其結果。系統的4D查看模式允許用戶在最多四個不同視圖中查看其缺陷圖像,從而對問題進行全面分析。此外,其模式叠加技術有助於用戶根據參考圖像評估缺陷密度。最後,TENCOR Archer 200還具有行業標準的安全特性。其集成的安全互鎖系統確保所有照射均勻點亮,防止用戶受到直接X射線輻射。此外,其EMI屏蔽確保其符合相關標準,確保其用戶的安全和結果的準確性。總而言之,Archer 200是一種先進的掩模和晶圓檢驗系統,可幫助各種尺寸的制造商快速準確地檢測其產品中的缺陷。KLA/TENCOR Archer 200具有出色的缺陷檢查功能和眾多用戶友好的功能,是任何希望將晶片和掩模檢查提升到下一個級別的人的寶貴工具。
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