二手 KLA / TENCOR Archer 300+ #9223425 待售

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KLA / TENCOR Archer 300+
已售出
ID: 9223425
晶圓大小: 12"
優質的: 2011
Overlay measurement system, 12" 2011 vintage.
KLA/TENCOR Archer 300+是一款高性能、自動化的掩模和晶圓檢測設備,旨在快速準確地識別半導體制造中的缺陷。該系統能夠檢查模具和掩模級別-它可以檢測圖樣、CD、叠加、作曲器和光刻缺陷,同時確保卓越的準確性和檢查速度。KLA Archer 300+配備了先進的光學檢測技術,包括雙色CCD相機。這種功能強大的成像裝置使用戶能夠詳細檢查蒙版和模具級別,並提供清晰清晰的圖像和出色的對比度。此外,該機獲得專利的照明和照明控制技術,連同其先進的圖像處理算法,甚至能夠識別和隔離最微小的缺陷。除了令人印象深刻的光學能力外,TENCOR Archer 300+還搭載了一系列其他功能,提升了其在半導體制造過程中的價值。例如,該工具附帶了一套功能強大的自動化導航工具,簡化了檢查過程,減少了操作員的時間。此外,資產的軟件使用戶能夠創建缺陷的詳細報告和分析,以及存儲和召回復雜的配方。Archer 300+還配備了精密的光學和光學相關解決方案,如波長比照、可變光斑大小、實時光譜測量等。這些解決方案允許模型檢測和應用多種顏色的一致強度,同時自適應地擦除從一個模具到下一個模具散射的任何光。總體而言,KLA/TENCOR Archer 300+是一款功能強大、自動化的面罩和晶圓檢測設備,旨在最大限度地提高精度,減少檢測時間。其先進的成像技術、導航工具和光學解決方案確保對每個模具進行徹底檢查,並迅速記錄和糾正任何缺陷。KLA Archer 300+憑借其可靠和可重復的結果,是半導體制造過程中的一個寶貴組成部分。
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