二手 KLA / TENCOR Archer 300 #9240153 待售

KLA/TENCOR Archer 300 Mask&Wafer Inspection設備是一種先進的光學檢測平臺，旨在提供有關Mask和Wafer質量的全面可靠數據。該系統設計用於高速、自動審查過程，每小時最多300個晶圓。它配備了業界領先的成像技術，旨在檢測從微觀到2微米大小的面罩和晶圓缺陷。在其核心，該單元包括一個獨特的，專有的SensorIRTM紅外探測器，與電動晶片級，光盾，和超高清晰度變焦鏡頭相結合的工作。這種獨特的設置在檢查掩模和晶片缺陷方面顯示了最高的靈敏度,傳感器在圖像分辨率、線條邊緣清晰度和對透明缺陷的靈敏度方面提供了無與倫比的結果。此外,該機器還包括板載過程管理器、數據分析和圖像比較功能。KLA Archer 300還配備了強大的可視化工具，旨在實現更好、更快的晶圓修復和返工決策。這包括一套日益復雜的圖像處理算法，旨在實時檢測和顯示圖像失真。此外,TENCOR Archer 300還具有集成的文本分析模塊,該模塊內置在資產中,用於更高級別的流程監控。此外，該模型還包括一系列自我診斷系統，旨在提供便利、可靠性和成本節約。Archer 300 Mask&Wafer Inspection設備是一個功能強大且用途廣泛的系統,旨在為操作員提供一個快速而全面的解決方案,用於檢查和分析Mask和Wafer的完整性。它結合了先進的光學和成像技術、數據分析和診斷能力,使其成為尋求可靠和業界領先的檢驗單位的人的理想選擇。