二手 KLA / TENCOR Archer 300+ #9262683 待售

KLA / TENCOR Archer 300+
ID: 9262683
Overlay measurement system.
KLA/TENCOR Archer 300+掩模和晶圓檢驗設備提供了高精度和可重復性,以支持全系列半導體器件制造應用。該系統具有多種檢查模式,非常適合各種制造工藝,可以根據每種工藝的具體要求輕松定制。該設備采用先進的高清成像硬件和先進的照明技術。這使計算機能夠在正面和背面模式下以多種不同的設計配置高精度檢查設備。該工具還能夠對具有1倍和5倍變焦功能的設備進行成像,從而能夠通過深度、模模線測量和汙染物檢測等方式對設備特性進行詳細檢查。資產的其他特征包括高分辨率圖像捕獲、全場晶圓映射、5軸映射功能、子像素配準以及集成的星模級缺陷定位。先進的算法能夠測量模具尺寸和凹凸高度,其準確性和可重復性是價格和性能相似的系統所無法比擬的。此外,KLA Archer 300+還配備了易於使用、靈活的用戶界面,並配備了用於QC人員的自動報告生成器。TENCOR Archer 300+提供了一個廣泛的自動化檢查和缺陷識別例程庫,它簡化並加快了可重復的過程,並且可以識別以前未識別的缺陷。這擴展了模型的功能,包括缺陷分析、金屬線檢查、地形分析、粒子計數預防、圖像叠加分析、電氣測試和檢查、叠加分析和晶圓處理。此外,KLA還提供全面的服務和設備支持服務,以確保及時有效地響應客戶要求。這些服務包括系統安裝、調試、日常維護和培訓,以確保最佳性能和單元正常運行時間。綜上所述,Archer 300+是一種掩碼和晶圓檢測機,它為需要精確和可重復過程控制的操作提供了出色的性能、多功能性和經濟性組合。該工具非常適合尋求高精度和提高產量和吞吐量的中小型制造商。
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