二手 KLA / TENCOR Archer 300 #9287998 待售

KLA/TENCOR Archer 300是一款面罩和晶圓檢測設備，旨在提供卓越的自動化產量和性能分析。KLA Archer 300利用先進的圖像識別算法來檢測、分析和分類半導體制造中使用的掩模和晶圓模式中的缺陷。該系統能夠在每小時超過1 300萬個站點檢測地形異常和參數異常。對這些站點進行掃描,以便檢測和準確校正掩模和晶片模式之間的任何差異。它還可以對各種缺陷類型進行高級分析，如線路窄或橋梁故障。TENCOR Archer 300的設計超越了精度和性能的最高標準。利用最新的成像技術，設備能夠檢測和分析微米級別的缺陷。其先進的模式識別算法能夠識別出與理想模式最小的偏差，從而產生更快的結果時間和更高的收益率。此外,KLA直觀軟件允許無縫定制測試參數和結果演示。使用用戶友好的圖形界面,用戶可以快速定義測試參數並創建可自定義的報告。這使用戶能夠比以往更快地分析和報告缺陷和分層。Archer 300對於突破性的下一代技術節點特別有用。它能夠監控和分析最復雜、最密集的晶圓圖樣,從而能夠準確檢測與多圖案設計相關的微小缺陷。該機器還能夠監測過程變化的影響及其對掩模和晶片性能的影響。KLA/TENCOR Archer 300是半導體制造過程中監控和分析掩模和晶圓缺陷的強大可靠工具。它提供了無與倫比的精度和控制,允許更精確的分析和更快的周轉時間。通過利用最新的成像和模式識別技術,KLA Archer 300可幫助用戶保持更高的產率,同時減少與測試和分析相關的時間和成本。